Pro základní funkčnost, zpříjemnění používání webu, analytické účely a v případě udělení souhlasu také pro účely cílení reklamy využíváme soubory cookies. Nastavení vlastních preferencí cookies můžete kdykoli upravit odkazem ve spodní části stránek.

Odmítnout vše můžete zde.


Úvod » KOROZNÍ INŽENÝRSTVÍ » Měření tlouštěk povlaků, analýza Cr


        

Měření tlouštěk povlaků, analýza Cr

dle kalkulace

skladem

 

Číslo produktu: 184
naše cena bez DPH: 1 Kč (0 EUR)
naše cena s DPH (21 %):
1 Kč (0 EUR)

Nedestruktivní měření tlouštěk vrstev a multivrstev na univerzálním rentgenově-fluorescenčním spektrometru Fischerscope X-RAY XDAL 237 SSD 50 mm2,  pro automatická měření na vrstvách od 0,05 µm. Dle norem i zákaznických specifikací.

 

Destruktivní měření tlouštěk vrstev a multivrstev metalograficky na digitálním videomikroskopu Keyence VHX 7000, vč. přípravy vzorků. Dle norem i zákaznických specifikací.

 

Stanovení počtu mikropórů/mikrotrhlin v povlaku chromu na digitálním videomikroskopu Keyence VHX 7000. Dle norem i zákaznických specifikací.

 

Zajištěno ve spolupracující laboratoři. Zpracování protokolu samozřejmostí. Kalkulace na požádání a dle typu a počtu vzorků. Kontaktujte nás na funchem@funchem.cz.

 

Zajišťujeme měření podle norem:

• ČSN EN ISO 3497 Kovové povlaky - Měření tloušťky povlaku - Rentgenospektrometrické metody
• ASTM B568-98 (2014) Standardní zkušební metoda pro měření tloušťky povlaku rentgenovou spektrometrií
• ISO 1463 Kovové a oxidové povlaky – Měření tloušťky povlaku Mikroskopická metoda
• VW TL 528 Chromované plastové díly; Materiálové požadavky

 

NÁZORY A DOTAZY NÁVŠTĚVNÍKŮ

Nebyl zatím přidán žádný názor. Přidejte svůj názor nebo dotaz jako první.