Úvod » KOROZNÍ INŽENÝRSTVÍ » Měření tlouštěk povlaků, analýza Cr
Nedestruktivní měření tlouštěk vrstev a multivrstev na univerzálním rentgenově-fluorescenčním spektrometru Fischerscope X-RAY XDAL 237 SSD 50 mm2, pro automatická měření na vrstvách od 0,05 µm. Dle norem i zákaznických specifikací.
Destruktivní měření tlouštěk vrstev a multivrstev metalograficky na digitálním videomikroskopu Keyence VHX 7000, vč. přípravy vzorků. Dle norem i zákaznických specifikací.
Stanovení počtu mikropórů/mikrotrhlin v povlaku chromu na digitálním videomikroskopu Keyence VHX 7000. Dle norem i zákaznických specifikací.
Zajištěno ve spolupracující laboratoři. Zpracování protokolu samozřejmostí. Kalkulace na požádání a dle typu a počtu vzorků. Kontaktujte nás na funchem@funchem.cz.
Zajišťujeme měření podle norem:
• ČSN EN ISO 3497 Kovové povlaky - Měření tloušťky povlaku - Rentgenospektrometrické metody
• ASTM B568-98 (2014) Standardní zkušební metoda pro měření tloušťky povlaku rentgenovou spektrometrií
• ISO 1463 Kovové a oxidové povlaky – Měření tloušťky povlaku Mikroskopická metoda
• VW TL 528 Chromované plastové díly; Materiálové požadavky